美国OAI 656 紫外光能测量仪是一款先进型紫外曝光分析仪，专门设计用于接触式/近接式掩膜对准曝光机（Contact/Proximity Mask Aligners）以及泛曝光系统（Flood Exposure Systems）。

OAI 659 紫外光强度与能量测量仪是美国OAI推出的一款先进型紫外曝光分析仪，专门用于所有晶圆步进曝光机（Wafer Stepper），包括高强度晶圆步进曝光机（High Intensity Wafer Steppers）。Model 659能够为半导体、MEMS、晶圆封装以及晶圆凸点制造行业中的光刻工艺提供可靠、精准、经过校准的控制。

美国OAI 308紫外线测光仪探头0308-0002-05 是需和手持式紫外线强度光度计配套使用的。适用于UVA、UVB和UVC波段。可选配用于数据记录的高速串行端口。该光度计及探头的精度均在 NIST可溯源标准的 ±3% 范围内。这款易于操作的光度计不仅具备自动量程功能.

美国OAI 308 UV紫外线测光仪是一款可靠、精准的紫外光强度测量仪器，用于测量紫外光（UV Light）的强度。 Model 308适用于多种行业和应用场景，专为需要进行精准、可靠紫外光测量的应用环境设计。该仪器采用手持式设计，配备可拆卸探头，可用于UVA、UVB和UVC不同紫外光谱范围的测量。同时，可选配高速串行接口，用于数据记录。 仪表和探头的准确度均达到±3%，并可追溯至NIST（美